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RFID标签响应频率基准测试系统及方法(发布日期:2021-09-22)
RFID标签响应频率基准测试系统及方法
成果编号 CG327
项目名称 RFID标签响应频率基准测试系统及方法 公司名称 ******
注册时间 2014-08-15 注册资本 ¥0.00万元
注册地址
主营业务
管理团队

项目主要情况描述
技术原理简介 本发明提供一种RFID标签响应频率基准测试系统及方法,该系统由标准测试环境、信号源发射天线、接收天线、待测RFID标签、信号源天线支架、接收天线支架、标签支架、信号源、频谱分析仪、控制计算机组成,该方法是在保持输入能量相同的情况下,通过分析一款RFID标签产品在不同测试频带内的响应特性,得到待测试RFID标签能够正常响应读写器信号的频域范围。通过模拟读写器读RFID标签信号实现对RFID频率范围进行测试,可以为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。
关键技术线路 CN200910237841.3 一种RFID标签响应频率的基准测试系统,包括标准测试环境、信号源发射天线、接收天线、待测RFID标签、信号源天线支架、接收天线支架、标签支架、信号源、频谱分析仪、控制计算机,其特征在于:信号源发射天线、接收天线、待测RFID标签、信号源天线支架、接收天线支架、标签支架置于标准测试环境的内部,信号源、频谱分析仪、控制计算机置于标准测试环境的外部,信号源发射天线置于信号源天线支架上,接收天线置于接收天线支架上,待测RFID标签置于标签支架上的接收天线和信号源发射天线的辐射面几何中心位置连线上,与信号源发射天线的距离为d1,与接收天线的距离为d2,信号源发射天线与信号源、接收天线与频谱分析仪之间分别通过射频馈线相连,控制计算机通过数据线与信号源、频谱分析仪分别相连,控制计算机向信号源发送控制指令,使信号源发射天线输出功率和频率可控的读写器读RFID标签信号,频谱分析仪通过接收天线捕获标准测试环境中的电磁信号,分析其中是否包含待测RFID标签对读写器读RFID标签信号的正确响应,如果发现正确响应的REID标签信号则将待测RFID标签信号的反向散射强度发送至控制计算机端记录,统计后控制计算机再次发送控制指令至信号源,调整发射功率和频率后开始下一次测试。
是否获得国家及省市科技经费资助
资助名称 资助金额 ¥0.00万元
行业历史与前景
市场规模及增长趋势
目标市场
行业竞争对手及本公司竞争优势
业务模式
策略操作性和有效性

项目融资说明
项目计划投资总额 ¥0.00万元 新增投资额 万元
资金来源 合作方式
固定资产投资额 ¥0.00万元
流动资产投资额 ¥0.00万元
资金使用方向细目

预计收益
项目建设期

联系方式
联系人 钟悦 电话 0813-8577222
联系地址 自贡高新区南岸科技新区孵化园1号楼 传真 0813-8577200
E_mail zgkjcgjy@163.com
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